一、产品详情

APMON II 表面沉降大颗粒检测仪，符合 ISO 14644-17国际标准，核心用于实时监控洁净室内15μm 及以上大型粒子的自然落下动态与堆积情况。

设备基于激光全像技术，自动统计粒子数量、解析粒径大小，以数据化方式管理生产环境粒子堆积风险，精准定位污染发生时间、溯源人员 / 操作诱因，助力优化洁净生产流程。

二、特点优势

1、精准监测大颗粒，弥补传统设备短板传统浮游粒子计数器仅监测 0.1~5μm 浮游小颗粒，无法捕捉 10μm 以上大型粒子；APMON 可精准检测15~1000μm全粒径大颗粒，覆盖传统设备 50%＞10μm、90%＞40μm 的监测盲区。

2、实时动态监控，数据可视化溯源最短 5 分钟采集一次数据，实时记录粒子落下高峰时段；通过图表直观呈现粒子数量、粒径分布，精准锁定污染发生时间，可比对人 / 事 / 物行为，快速溯源污染诱因。

3、符合国际标准，支持 PDR 量化管控严格遵循 ISO 14644-17 标准，可计算粒子堆积率（PDR），量化每平方米 / 每小时粒子沉积量，提供 PDR 上限参考值，实现大型粒子风险的标准化、数据化管控。

4、自动生成可视化报表，直观呈现时间 - 颗粒数量、粒径分布，轻松关联人员动线、操作流程、设备状态，快速锁定污染源。

5、云端集中管控，多站点协同管理。传感器可独立运行，数据自动上传 AWS 云平台，支持全球多洁净室、多设备数据同步查看与对比，轻松实现跨厂区基准化管理。

三、规格参数

四、应用范围 / 场景

• 半导体、液晶面板、制药、医疗器械、精密制造

• 任何对5μm以上颗粒敏感的生产环境

• “明明洁净室等级很高，产品却总是脏”的企业