产品中心

SUMON表面清洁监测仪

一、产品简介SUMON 表面清洁度监测仪搭载紫外成像技术，可对 10 cm² 检测区域内直径≥20 µm 的荧光颗粒进行计数与粒径测量。设备由便携式传感器与配套分析软件组成，单设备可存储最多 100 组测量数据，自动输出颗粒数量、粒径分布、面积···...

获取报价 →

详情介绍

一、产品简介

SUMON 表面清洁度监测仪搭载紫外成像技术，可对 10 cm² 检测区域内直径≥20 µm 的荧光颗粒进行计数与粒径测量。设备由便携式传感器与配套分析软件组成，单设备可存储最多 100 组测量数据，自动输出颗粒数量、粒径分布、面积覆盖率、颗粒沉积速率等核心数据，同时可评估工艺与产品污染风险、支持异常报警。

产品全面遵循 ISO 14644-9、VDA 19.1 等行业洁净标准，广泛应用于洁净室、关键工艺区及高价值产品生产线，助力用户量化表面污染、评估清洁效率、追踪颗粒沉积趋势，实现洁净状态可视化管控。

二、性能特点

✅ 高精度检测智能数据分析

采用紫外成像技术，识别 20–10000μm 人体及有机荧光颗粒；自动完成颗粒参数、纤维计数、沉积速率、Illig 值等多维度统计，支持趋势分析、清洁效率评估与大面积测量。

✅ 合规认证报告标准化

满足 ISO 14644-9、ISO 16232（VDA 19.1）、IEST STD 1246E 行业规范，检测数据可直接生成合规报告，全程可追溯。

✅ 便携易操作适配洁净场景

一体式触控屏幕，现场实时查看数据图像；单机存储 100 组测量数据，USB 快速导出；机身轻便，支持 IPA / 乙醇擦拭，适配各类洁净室环境。

✅ 实时监测异常主动预警

动态反馈颗粒沉积速率、面积覆盖及工艺污染风险，可自定义报警阈值，从源头防控生产缺陷。

三、规格参数

传感器	参数
测量原理	紫外荧光成像（UV 365nm）
检测颗粒	20–10,000μm
最小可测量直径	20μm
测量面积	38.4 x 27.48 mm
探测光	＞410nm
单次存储	100 组测量数据
阈值	自动
频道大小	与3个标准相关的设定
支持软件	SUMON软件
充电器功率	100-240V，50-60Hz，0.3A
电池续航	6-8小时
充电时间	4小时
尺寸	100 x 85 x 130 毫米（宽 x 宽 x 高） 4.0 x 3.2 x 5.1英寸（宽 x 宽 x 高）
重量	1200g
工作温度/湿度	0–45°C / 20%–80% RH（无冷凝） 32°F - 113°F / 20% - 80%（无冷凝）
存储温度/湿度	-20–45°C / ≤80% （无冷凝） -4°F -113°F / 80%（无冷凝）
标准合规	ISO 14644-9、ISO 16232（VDA 19.1）、IEST STD 1246E

计算机	参数
处理器	英特尔Core i5（第六代或更新）或同等或更好的处理器
记忆	≥8GB内存
存储	≥500GB内存
显示器	分辨率为1366 x 768
操作系统	Microsoft Windows 10 专业版 x64
存储	75GB （≥20000次测量）
连接	USB 3.0